KT-4MG+ Pro 是一款專為 DDR4 記憶體模組高速測試所設計的先進設備，整合 ATE（自動化測試設備）邏輯測試與 SLT（系統級測試）雙模式，可提供完整且全面的記憶體品質檢測能力。
1. 高速測試效能
支援最高 3.2 Gbps 測試頻率，可快速且精準地定位記憶體缺陷，並執行 PPR（Post Package Repair，封裝後修復），有效提升記憶體模組的良率與可靠性。
2. 完整測試涵蓋範圍
涵蓋 DC／AC 測試、頻率與時序精準量測、SPD 讀寫、功能測試、訊號完整性測試、長時間穩定性測試，以及實體層級修復等多項功能。
3. 廣泛規格相容性
相容多種 DDR4 DIMM 標準規格，包括 UDIMM、RDIMM、SODIMM、LRDIMM 與 NVDIMM，可滿足不同產品及應用場景的測試需求。
4. 極端溫度測試支援
標準測試溫度範圍涵蓋常溫至 85°C，亦可選配 −40°C 至 125°C 三溫測試機櫃，以驗證記憶體於極端環境下的穩定性與測試準確度。
支援顆粒類型
DDR4 SDRAM，支援 x4／x8／x16 位寬，容量涵蓋 2／4／8／16／32（3DS）Gb
並行測試能力（Device）
單機支援 32 顆（x8）或 16 顆（x16）晶片並行測試；自動化系統可配置 8 台測試機，最高支援 256 顆（x8）或 128 顆（x16）晶片並行測試
支援記憶體模組類型
DDR4 UDIMM、RDIMM、LRDIMM、3DS RDIMM、3DS LRDIMM、NVDIMM、SODIMM（需搭配轉接器）
並行測試能力（Module）
單機支援 4 支 DIMM 並行測試；自動化系統可配置 10 台測試機，最高支援 40 支 DIMM 並行測試
支援資料速率
1333／1600／1800／1867／2000／2133／2200／2400／2600／2667／2800／2933／3200 MT/s
可調整時序參數
tCL、tCWL、tRC、tRCD、tRASmin、tRP、tRRD、tWTR、tRFC、tFAW、tRTP、tWR、tCCD、CmdRate
測試項目
內建 32 種專業測試演算法，並提供 BTT 演算法二次開發介面，可依不同測試需求進行客製化擴充。
